産業のための光度測定・放射測定における不確かさに関するCIEエキスパートシンポジウム予稿集

CIE x040:2014 Proceedings of CIE Expert Symposium on Measurement Uncertainties in Photometry and Radiometry for Industry, September 12, 2014, Vienna, Austria.

2014/78ページ /価格(正会員)24ユーロ  (非会員)48ユーロ

このシンポジウムは、CIE本部の協力のもと、CIE第2部会によって組織され、ウィーン(オーストリア)にあるCIE本部にて主催された。このシンポジウムでは、特に産業への応用を考慮した光度測定および放射測定における不確かさについての事実と最新の研究に関する光度測定および放射測定の分野における専門家による論文を特集している。

この出版物は,11のペーパーを含む78ページで構成される。CIE x040:2014は既にCIEウェブショップを経由してCIE国内委員会にて購入可能である。

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