CIEエキスパートシンポジウム「測光・放射測定のための分光およびイメージング測定法」

CIE x036 Proceedings of CIE Expert Symposium on Spectral and Imaging Methods for Photometry and Radiometry

2010/163ページ/価格(正会員)64ユーロ  (非会員)128ユーロ

このシンポジウムはスイス照明学会(SLG)の協力の下、CIE第2部会によってMETAS(スイス連邦の国家計量標準機関)において催されたものである。シンポジウムの1日目は測光・放射測定分野における最新技術を解説したチュートリアルであった。2日目は、分光およびイメージング技術を用いた方法に焦点を当てつつ、測光・測色・放射測定の最新の研究成果を示した35件の発表が行われた。シンポジウムは、1)配光測定および空間的測定、2)イメージング測定および分光測定、3)LEDの計測、4)放射測定の最新動向、という4つのセッション構成で行われた。

このシンポジウムのプロシーディングには、16件の口頭発表および19件のポスター発表の論文が含まれている。

この出版物は、169個の図と20個の表を伴った35件の論文を含む全163ページの構成となっている。また、この出版物はCD-ROMおよびCIE本部ウェブサイト(www.cie.co.at)からのダウンロードで入手可能である。

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